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半导体分立器件GJB33A-1997筛选检测实验室

GJB33A-1997是军用半导体分立器件的筛选检测总规范，江苏粤科检测是专业第三方电子元器件二次筛选机构，实验室具备GJB33A-1997标准CNAS检测资质和检测能力，可提供半导体分立器件GJB33A-1997筛选检测、二次筛选服务。

GJB33A-1997筛选检测产品

功率FET、双极性晶体管、IGBT、GaAsFET、微波晶体管、晶体管、二极管芯片、二极管、整流二极管等。

半导体分立器件GJB33A-1997筛选检测项目

1. 内部目检（封帽前）；

2. 高温寿命 非工作寿命（稳定烘焙）；

3. 温度循环（空气~空气）、浪涌、热响应；

4. 恒定加速度；

5. 粒子碰撞噪声检测；

6. 不稳定冲击试验；

7. 密封 （细检漏、粗检漏）；

8. 编序列号；

9. 中间测试 电参数；

10. 高温反偏（HTRB）;

11. PDA的中间电测试和变化量；

12. 功率老练；

13. 终点测试；

14. X射线照相；

15. 目视检查。

半导体分立器件GJB33A-1997筛选检测报告办理流程

1. 前期咨询：提供需委托检测项目、测试条件或测试标准；

2. 评估报价：根据检测要求、样品规格及参数评估报价；

3. 填写委托书：向优科发起检测申请，填写委托书（会有专人指导填写）；

4. 付款及提供样品资料：按照协定报价支付费用，按要求提供足够数量的样品及产品资料；

5. 安排检测：按委托要求对产品进行检测；

6. 出具报告：依据检测数据出具报告，将报告、发票及样品回寄客户。

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